開課班級Class：	授課教師Teacher：	學分數Credits：
四先進材料三A	林鉉凱	3

課程大綱Course Description：

本課程讓學生了解掃描式電子顯微鏡及成分分析之原理及其應用，並安排示範操作，讓學生充分了解各項設備的功能，進而有深刻認識。授課內容為顯微鏡之結構及其原理、X射線之原理及應用。

English Outline：

The aim of this course is to acquaint the students with the principles of scanning electron microscopy (SEM) and energy dispersive X-ray spectrometer (EDS). The course also arranges the practical sessions to the students in order to fully understand the functions in our system. This course includes the principle and structure of SEM, and qualitative X-ray analysis in our equipment.

本科目教學目標Course Objectives：

教學型態Teaching Models：	成績考核方式Grading：
課堂教學+實習 (校內、校外)	平時成績General Performance：30% 期中考Midterm Exam：35% 期末考Final exam：35% 其它 Other：Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, J.I. Goldstein, D.E. Newbury, P. Echlin, D.C. Joy, C. Fiori, and E. Lifshin, plenum press. 材料電子顯微鏡學，陳力俊編著 本校JSM-7600F操作手冊

參考書目Textbooks/References：

SDGs指標：

課程匯入時間Import Time：2022-01-04 14:56:19

最後更新時間Last Modified：2022-02-16 09:29:57，更新人modified by：林鉉凱